La cara oculta de los test de inteligencia : un análisis crítico / Ovejero Bernal, Anastasio
por Ovejero Bernal, Anastasio.
Tipo:
MonografíaSeries: Psicología Universidad.Editor: Madrid :Biblioteca Nueva ,2003 Descrición: 317 p ;24cm.ISBN: 8497421051.Materia(s): ORIENTACIÓN EDUCATIVA
| Tipo de ítem | Localización actual | Sinatura topográfica | Número de volume | Dispoñibilidade | Data de vencemento | Código de barras | Datos do exemplar |
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| Prestable | IES Ribeira do Louro Sala préstamo | Ori OVE car | 1 | Dispoñible | PED025000013756 |
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